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英伟达与门洛微电子合作加速AI芯片测试:最快提升90% 缓解生产瓶颈

2025-11-20 18:41:22 神评论
17173 新闻导语

英伟达与门洛微电子合作,通过创新开关芯片技术,将AI芯片测试速度提升高达90%,有效解决生产瓶颈,加速AI芯片验证流程。

据媒体报道,英伟达与门洛微电子共同宣布,双方通过引入后者创新技术,显著提升了人工智能芯片的测试效率,为解决芯片生产过程中的关键瓶颈提供了可行方案。

作为全球市值最高的上市公司及AI浪潮的核心推动者,英伟达持续优化其生产流程,以应对市场对其芯片持续高涨的需求。

目前,英伟达已售出数百万颗AI芯片,每一颗在出厂前都需经过严格测试——将其置于专用电路板上,验证其速度与功能是否达标。然而,尽管AI芯片本身技术先进,许多测试电路板所采用的开关技术仍停留在数十年前水平,难以匹配AI芯片的高功耗与极速数据传输需求,形成显著测试瓶颈。

为此,英伟达选择与门洛微电子合作。该公司成立于2016年,自通用电气分拆而来,并已获得来自康宁公司及iPhone联合创始人托尼?法德尔旗下风投基金共计2.275亿美元融资。双方联合开发出一系列高性能开关芯片,可大幅提升测试电路板的整体性能。

门洛微电子的开关芯片采用金属材质,基于微机电系统技术将传统开关结构缩小至芯片级别,实现了类似墙壁电灯开关的功能,但在尺寸与响应速度上实现质的飞跃。

在周三发布的研究报告中,两家公司的工程师指出,采用该技术后,英伟达GPU的测试速度可提升30%至90%,具体幅度取决于测试类型。

门洛微电子CEO拉斯?加西亚未透露与英伟达合作的具体业务规模,但表示其他大型芯片制造商也已开始采用其开关芯片用于测试环节。他在采访中强调:“关键在于,若不能在GPU进入数据中心前完成验证,将可能导致后续故障。我们的技术是实现‘高速验证’的唯一路径。”

【来源:快科技】
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